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Término solicitado: LEYDEN, DONALD, E.^RED./(22)

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Tipo de Docum.:	advance
Título:	*Proceedings*
Autor:	Cohen, Jerome B.. ed.; Russ, John C.. ed.; Leyden, Donald, E.. ed.; Barrett, Charles S.. ed.; Predecki, Paul K.. ed.
Reunión:	University of Denver. Denver. US, JCPDS-International Centre for Diffraction Data, Annual Conference on the Applications of X-Ray Analysis, Snowmass. US, 1983
Título Ser./Col.:	Advances in X-ray analysis, vol.27
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York. US. Plenum Press. 1983.
Pág./Vol.:	579p.
Notas:	Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química.
Descriptores:	Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Materiales; Métodos de identificación; Difracción; Sistemas computarizados; Espectros; Compuestos químicos; Algoritmos; Análisis químico; Minerales; Fosfatos; Simulación; Deformación; Tensiones; Metodos de determinación; Sincrotrones; Radiación; Propiedades mecánicas; Mediciones; Tensiones; Tratamientos térmicos; Fatiga; Aceros; Fractografía; Corrosión; Fluorescencia; Análisis cuantitativo; Aerosoles; Minerales; Robótica; Arqueología; Geoquímica; Isótopos radioactivos; Contaminación del suelo; Bario; Tierras raras; Cationes; Concentración; Sodio; Silicatos; Polarización; Dispersión; Resistencia de materiales

Ubicación:	543.4/.47/A244/27/A; CEQUIPE/167/Metales y A.Inorgánico
Disponibilidad:	Préstamo